Marca: Microscopia de alta resolução em nanoescala. Técnica para obtenção de topografia, contraste de materiais, propriedades elétricas, magnéticas e nanomecânicas e modificações de superfície.
Função:
Microscopia de Força Atômica - AFM
Infraestrutura
Microscopia de Força Atômica - AFM
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08/05/2023 | 0 comentários
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Publicado por Anônimo
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